共用機器一覧

Ｘ線ＣＴ装置　FLEX-M345CT

（㈱ビームセンス）

（料金規程）119室

#３次元構造解析、#多孔体、#微細構造

走査型透過電子顕微鏡　JEM-2100F

（日本電子㈱）

（料金規程）115室

#組成分析、#マッピング、#無機粒子、#金属粒子

フーリエ変換核磁気共鳴装置　JNM-ECX400KUM

（日本電子㈱）

（料金規程）104室

#多核測定、#二次元NMR

レーザー切断・穴あけ加工装置　LDSD-3000Ｍ

（LTS Co., Ltd.(韓国)）

（料金規程）207室

#穴あけ、#マーキング、#表面処理

ソフトマテリアル三次元構造解析システム　JEM-1400他

（日本電子㈱）

（料金規程）005室

#電子顕微鏡、#TEM、#EDS、#STEM

超高分解能フーリエ変換型質量分析システム　Exactive Plus

（Thermo Fisher Scientific Inc.(米国)）

（料金規程）007室

#質量分析、#精密質量、#HRMS、#LC-MS

ベンチトップFT-IR赤外分光光度計　Nicolet iS50

（Thermo Fisher Scientific Inc.(米国)）

（料金規程）006室

#材料分析、#ラマン分光、#有機材料

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)　Regulus8220

（㈱日立ハイテクノロジーズ）

（料金規程）006室

#ナノ材料、#組成分析、#表面観察

小動物用マイクロＣＴ　SKYSCAN 1272

（Bruker Corp.(米国)）

（料金規程）006室

#X線顕微鏡、#3Dイメージング、#生体試料、#微細構造、#ライフサイエンス

リアルタイムPCRシステム　QuantStudio 7 Pro

（Thermo Fisher Scientific Inc.(米国)）

（料金規程）006室

#リアルタイムPCR、#遺伝子発現、#タンパク質発現解析、#ゲノムアプリケーション

卓上大気圧電子顕微鏡　AeroSurf 1500

（㈱日立ハイテク）

（料金規程）006室

#走査型電子顕微鏡、#SEM、#大気圧観察、#湿潤試料観察

多検体ナノ粒子径測定システム　nanoSAQLA

（大塚電子㈱）

（料金規程）006室

#粒子径測定、#動的光錯乱法、#ナノ粒子

パルスレーザー加工システム ※使用停止中

・フェムト秒レーザー　FREGAT（Avesta Project Ltd.(ロシア)）

・ピコ秒レーザー　ATLANTIC（EKSPLA Ltd.(リトアニア)）

（料金規程）006室

#超短パルスレーザー、#微細加工

空間光変調器(LCOS-SLM)　X10468 series

（浜松ホトニクス㈱）

（料金規程）006室

#位相変調、#波面補正

集束イオンビーム・走査型電子顕微鏡加工観察装置　JIB-4600F他

（日本電子㈱）

（料金規程）006室

#ナノ構造観察、#微細加工、#元素分析

超臨界乾燥装置　SCRD4

（㈱レクザム）

（料金規程）006室

#超臨界状態、#洗浄

走査型プローブ顕微鏡　MultiMode8J-KM1603他

（Bruker Nano Inc.(米国)）

（料金規程）006室

#表面形状測定、#表面物性測定

全自動多目的Ｘ線回折装置　SmartLab

（㈱リガク）

（料金規程）006室

#粉末X線回折、#薄膜X線、#粉末未知構造解析、#Rietveld法

質量分析システム　SCIEX X500R QTOF

（㈱エービー・サイエックス）

（料金規程）008室

#LC-MS/MS、#IDA、#SWATH、#HRMS

極微細周期構造解析システム　NANO-Viewer

（㈱リガク）

（料金規程）006室

#小角X線散乱、#SAXS、#X線回折、#ラメラ

４００ＭＨｚフーリエ変換核磁気共鳴装置　JNM-ECZ400S

（日本電子㈱）

（料金規程）104室

#核磁気共鳴、#構造解析、#温度可変測定、#反応速度解析、#拡散係数解析

時間分解吸収分光解析システム

（浜松ホトニクス㈱）

（料金規程）006室

#過渡吸収、#過渡発光、#励起状態、#スペクトル分析

透過型電子顕微鏡(TEM)　HT7700

（㈱日立ハイテクノロジーズ）

（料金規程）006室

#電子顕微鏡、#TEM、#電子回折

超音波熱圧着ディープアクセスウエッジワイヤーボンダー

（WestBond, Inc.(米国)）※使用停止中

（料金規程）

※使用停止中

汎用３Ｄ構造データ高精度収集・造形システム

・３Ｄスキャニングシステム
　Geomagic Capture（3D Systems Corp.(米国)）

・石膏造形プリンタ ※使用停止中
　Projet 260C（3D Systems Corp.(米国)）

・樹脂造形プリンタ ※使用停止中
　Projet 3500 HD Max（3D Systems Corp.(米国)）

・日立ＭＲイメージング装置
　AIRIS Vento（㈱日立製作所）

（料金規程）259室等

#3Dプリンタ、#3Dスキャナ、#オープンMRI、#低磁場MRI

Ｘ線回折装置　SLX2000

（㈱リガク）

（料金規程）005室

#結晶構造評価、#面間隔評価、#配向性評価

AC-Hall測定装置　Resitest 8300

（㈱東陽テクニカ）

（料金規程）307室

#極性判定、#キャリア密度、#移動度、#抵抗率

走査型電子顕微鏡　JSM-6500F

（日本電子㈱）

（料金規程）009室

#表面構造観察、#マイクロ・ナノ材料、#半導体、#無機材料

半導体結晶成長装置　HR-3216

（大陽日酸㈱）

（料金規程）016室

プラズマCVD装置　PD-220

（サムコ㈱）

（料金規程）008室

電子ビーム露光装置　JBX-6300 等

（日本電子㈱）

（料金規程）015室

電子ビーム露光装置　JBX-9400#1 等

（日本電子㈱）

（料金規程）012室

電子ビーム露光装置　JBX-9400#2 等

（日本電子㈱）

（料金規程）104室

プラズマエッチング装置　RIE-41iPK

（サムコ㈱）

（料金規程）008室

プラズマエッチング装置　ICP110iPKU

（サムコ㈱）

（料金規程）008室

プラズマエッチング装置　RIE-200ku

（サムコ㈱）

（料金規程）329室

プラズマエッチング装置　RIE-200kuS

（サムコ㈱）

（料金規程）329室

プラズマエッチング装置　RIE-400iPNK

（サムコ㈱）

（料金規程）102室

反応性イオンエッチング装置　RIE-10NR-KU

（サムコ㈱）

（料金規程）329室

走査型電子顕微鏡　S-4800EDX

（㈱日立ハイテクノロジーズ）

（料金規程）007室

走査型電子顕微鏡　Regulus8220

（㈱日立ハイテクノロジーズ）

（料金規程）007室

光露光装置　DL-1000KIR

（㈱ナノシステムソリューションズ）

（料金規程）102室

光露光装置　DDB-701-DL4-FBT 等

（ネオアーク㈱）

（料金規程）102室

電子ビーム蒸着装置　ED-1500

（㈱サンバック）

（料金規程）329室

電子ビーム蒸着装置　多元同時電子ビーム蒸着装置

（㈱サンバック）

（料金規程）102室

メッキ装置
　大面積フォトニック結晶レーザー用厚膜電極形成装置

（㈱日立パワーソリューションズ）

（料金規程）102室

研削・研磨装置　FAM-12BS#1

（スピードファム㈱）

（料金規程）006室

研削・研磨装置　FAM-12BS#2

（スピードファム㈱）

（料金規程）006室

ダイシング装置
　純水リサイクルユニット付きダイシング装置

（㈱ディスコ）

（料金規程）111室

スクライブ装置　DPS-301R-KU

（ダイトロンテクノロジー㈱）

（料金規程）329室

フリップチップボンディング装置　MODEL4200-KU

（ハイソル㈱）

（料金規程）113室

フリップチップボンディング装置　KMP400

（ハイソル㈱）

（料金規程）106室

ワイヤボンディング装置　モデル7476D

（WestBond, Inc.(米国)）

（料金規程）106室

ワイヤボンディング装置　モデル4KE

（WestBond, Inc.(米国)）

（料金規程）106室

封止装置　インバータ式溶接機

（㈱ハイマックス）

（料金規程）106室

６軸制御型ドライビングシミュレータ　UC-win/Road

（㈱フォーラムエイト）

（料金規程）272室

#運転行動、#室内実験、#Virtual Reality、#交通安全

ハイブリッド質量分析システム　Q Exactive Orbitrap LC-MS/MS

（Thermo Fisher Scientific Inc.(米国)）

（料金規程）031室

#質量分析、#精密質量、#LC-MS/MS

ＩＣＰ質量分析計(ICP-MS)　NexION1000

（PerkinElmer Inc.(米国)）

（料金規程）028室

#元素分析、#定量分析、#He-KED

Ｘ線回折装置(XRD)　RINT-Ultima+/PCQ2

（㈱リガク）

（料金規程）035室

#粉末X線回折、#結晶相同定

顕微レーザーラマン分光装置　LabRAM HR Evolution

（㈱堀場製作所）

（料金規程）072室

#ラマン散乱光、#非破壊検査、#マッピング測定、#イメージング

走査電子顕微鏡　JSM-6390LV

（日本電子㈱）

（料金規程）045室

#表面形状観察、#微細構造、#低真空

ジオマテリアル可視化装置+FPD，ワークテーブル

（東芝ITコントロールシステム㈱）

（料金規程）043室

#マイクロフォーカス、#3次元内部構造、#非破壊測定

モーションキャプチャ　OptiTrack 一式

（アキュイティー㈱）

（料金規程）構造実験室

#モーションキャプチャ、#3次元、#動的計測

建築桂ファブ設備一式 ※準備中

・レーザーカッター
　speedy100（Trotec Laser GmbH(オーストリア)）

・ＣＮＣルーター
　Desktop MAX（ShopBot Tools, Inc.(米国)）

・３Ｄプリンタ
　CR-10 Smart Pro（Shenzhen Creality 3D Technology Co., Ltd.(中国)）

・汎用ハンドツール各種
　ベルトサンダー、糸ノコ盤、スライド丸鋸盤、ボール盤、
　インパクトドライバ、ミニサンダー、　ジグソー、トリマー、
　コンプレッサー、エアタッカー、レーザー水準器

（料金規程）218室

#レーザー加工、#CNCルーター、#3Dプリンタ

高分解能ＲＢＳ装置

（㈱神戸製鋼所）

（料金規程）bB1N01

#イオン散乱分析、#極薄膜、#元素組成、#非破壊深さ方向分析

走査型電子顕微鏡(FE-SEM)　SU-8020

（㈱日立ハイテクノロジーズ）

（料金規程）cB1S05

#表面形状観察、#微細構造、#膜厚測定

原子間力顕微鏡　NanoWizard3

（JPK Instruments AG(ドイツ)）

（料金規程）cB1S05

#表面形状観察、#微細構造、#表面物性測定

マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置　JY-5000RF

（㈱堀場製作所）

（料金規程）727室

#GD-OES、#深さ方向、#定性分析、#表面分析

Ｘ線光電子分光装置　JPS-9010TRX

（日本電子㈱）

（料金規程）118室

#XPS、#ESCA、#固体表面分析、#化学状態分析

走査電子顕微鏡　S-3500H

（㈱日立ハイテク）

（料金規程）002室

#SEM、#EDX、#WDX、#EPMA

ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡　JSM-6500F

（日本電子㈱）

（料金規程）002室

#FE-SEM、#EDX、#アウトレンズ

Ｘ線回折装置　X'Pert PRO Alpha-1

（スペクトリス㈱）

（料金規程）002室

#XRD、#CuターゲットＸ線管、#入射側モノクロメーター、#集中法光学系

多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置　PHI VersaProbe4

（アルバック・ファイ㈱）

（料金規程）002室

#XPS、#UPS、#LEIPS、#REELS、#固体表面分析

透過電子顕微鏡　JEM-2010

（日本電子㈱）

（料金規程）020室

#TEM、#電子回折、#格子欠陥観察

電界放出形透過電子顕微鏡　JEM-2100F

（日本電子㈱）

（料金規程）020室

#TEM、#STEM、#EDS、#電子回折、#組成分析

ＩＣＰ発光分光分析装置　SPS3520UV

（エスアイアイ・ナノテクノロジー㈱）

（料金規程）727室

#ICP-OES、#定量分析、#ppmオーダー、#Arプラズマ

重イオン核物性実験装置

ファン・デ・グラーフ型イオン加速装置(重イオン用)　型式VI-40

（三菱電機㈱）

（料金規程）実験室

#元素分析、#RBS、#PIXE、#大気圧下PIXE

重イオン核物性実験装置

ファン・デ・グラーフ型電子加速装置(電子用)　型式VE-20

（三菱電機㈱）

（料金規程）実験室

#電子線、#Ｘ線、#大線量放射線照射

イオンビーム分析実験装置　タンデム型イオン加速器

コッククロフト・ワルトン型イオン加速装置　型式4117A

（セイコー電子工業㈱）

（料金規程）実験室

#元素分析、#RBS、#ERDA、#TOF-ERDA、#イオン注入

量子ビーム生体分子動態解析実験システム

ファン・デ・グラーフ型加速装置(マイクロビーム)　型式6SHD-2

（National Electrostatics Corp.(米国)）

（料金規程）実験室

#元素分析、#RBS、#PIXE、#ERDA、#PIGE