関連規程一覧
組織規程、共同利用内規
| 規程名称 | 制定日/改正日 |
|---|---|
京都大学設備サポート拠点「桂結」規程 |
令和２年９月１０日 |
| 京都大学設備サポート拠点「桂結」運営委員会規程 |
令和２年１０月２３日 |
| 京都大学設備サポート拠点「桂結」設備共同利用内規 |
令和３年３月８日 |
機器個別の共同利用規程
| 規程名称* | 制定日/改正日 | 対応設備名称 |
|---|---|---|
| 附属量子理工学教育研究センター加速器利用規程 |
令和５年４月１日 | ファン・デ・グラーフ型加速装置（重イオン用） 型式 VI-40 ファン・デ・グラーフ型加速装置（電子用） 型式 VE-20 コッククロフト・ワルトン型加速装置 型式 4117A ファン・デ・グラーフ型加速装置（マイクロビーム） 型式 6SHD-2 |
| マイクロエンジニアリング専攻高分解能ＲＢＳ装置共同利用規程 |
平成３０年２月８日 | 高分解能ＲＢＳ装置 |
| 化学工学専攻Ｘ線ＣＴ装置ＦＬＥＸ－Ｍ３４５ＣＴ共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ビームセンス製Ｘ線ＣＴ装置ＦＬＥＸ－Ｍ３４５ＣＴ |
| 材料工学専攻共通装置共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ㈱堀場製作所製マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 JY 5000RF 日本電子㈱製X線光電子分光装置 JPS-9010TRX |
| 令和６年１０月１０日 | ㈱日立ハイテク製走査電子顕微鏡 S-3500H 日本電子㈱製ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-6500F スペクトリス㈱製X線回折装置 X'Pert PRO Alpha-1 アルバック・ファイ㈱製多機能走査型X線光電子分光分析装置 PHI VersaProbe4 日本電子㈱製透過電子顕微鏡 JEM-2010 日本電子㈱製電界放出形透過電子顕微鏡 JEM-2100F エスアイアイ・ナノテクノロジー㈱製ICP発光分光分析装置 SPS3520UV |
|
| 都市社会工学専攻ドライビングシミュレータ共同利用規程 |
令和６年１月１１日 | ㈱フォーラムエイト製6軸制御型ドライビングシミュレータ |
| 電気工学専攻パワーデバイス製作・計測装置共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ウエスト･ボンド社製ウエッジワイヤーボンダー（※使用停止中） |
| 化学工学専攻走査型透過電子顕微鏡ＪＥＭ－２１００Ｆ共同利用規程 |
令和５年４月１日 | 日本電子製走査型透過電子顕微鏡ＪＥＭ－２１００Ｆ |
| 電気工学専攻汎用３Ｄ構造データ高精度収集・造形システム共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ３Ｄスキャニングシステム Geomagic Capture 石膏造形プリンタ ProJet 260C（※使用停止中） 樹脂造形プリンタ ProJet 3500HD Max（※使用停止中） 日立ＭＲイメージング装置 AIRIS Vento |
| 電子工学専攻材料構造・電子物性評価装置共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ㈱リガク製Ｘ線回折装置 SLX2000 ㈱東陽テクニカ製ACHall測定装置 Resitest 8300 |
| 令和６年１０月１０日 | 日本電子㈱製走査型電子顕微鏡 JSM-6500F | |
| 物質エネルギー化学専攻ミクロ制御集合体構造解析実験設備ECX400KUM共同利用規程 |
令和５年４月１日 | 日本電子製フーリエ変換核磁気共鳴装置 JNM ECX400KUM |
| 機械工学群（機械理工学専攻・マイクロエンジニアリング専攻・航空宇宙工学専攻）顕微鏡室共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ㈱日立ハイテクノロジーズ製走査型電子顕微鏡 SU-8020 JPK Instruments社製原子間力顕微鏡 NanoWizard3 |
| 材料化学専攻材料プロセッシング設備共同利用規程 |
令和５年３月９日 | レーザー切断・穴あけ加工装置 LDSD-3000M |
| 合成・生物化学専攻及び材料化学専攻質量分析室における測定、分析等受託規程 |
令和４年１０月１３日 | 米国Thermo Fisher Scientific社製 超高分解フーリエ変換型質量分析システム Exactive Plus |
| 都市環境工学専攻高度環境分析システム共同利用規程 |
令和５年１１月９日 | 米国サーモフィッシャーサイエンティフィック製 Q Exactive Focus LC-MS/Orbitrap ハイブリッド質量分析システム 米国パーキンエルマーライフアンドアナリティカルサイエンス製ICP質量分析計(ICP-MS) NexION1000 ㈱リガク製X線回折分析装置 (XRD)RINT-Ultima+/PCQ2 ㈱堀場製作所製顕微レーザーラマン分光装置 LabRAM HR Evolution HR-TypeTE-KCII |
| 物質エネルギー化学専攻ソフトマテリアル三次元構造解析システム共同利用規程 |
令和５年４月１日 | ソフトマテリアル三次元構造解析システム |
| 社会基盤工学専攻走査電子顕微鏡ＪＳＭ６３９０ＬＶ共同利用規程 |
令和５年４月１日 | 日本電子㈱製走査電子顕微鏡ＪＳＭ６３９０ＬＶ |
| 社会基盤工学専攻ジオマテリアル可視化装置共同利用規程 |
令和６年１月１１日 | マイクロフォーカスX線CT装置 KYOTO-GEOmXCT 三次元画像解析ソフト VGStudioMax3.1 三次元画像解析ソフト Avizo2019 |
| インキュベーション・コアラボ（最先端機器室）共同利用規程 |
令和４年１０月１３日 | ベンチトップFT-IR赤外分光光度計 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM） 小動物用マイクロCT リアルタイムPCRシステム 卓上大気圧電子顕微鏡 多検体ナノ粒子径測定システム |
| 令和５年３月９日 | パルスレーザー加工システム 空間光変調器 集束イオンビーム・走査型電子顕微鏡加工観察装置 超臨界乾燥装置 走査型プローブ顕微鏡 全自動多目的X線回折装置 質量分析システム SCIEX X500R QTOF（※準備中） |
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| 令和５年９月７日 | 極微細周期構造解析システム ４００ＭＨｚフーリエ変換核磁気共鳴装置 JNM ECZ400S 時間分解吸収分光解析システム 透過型電子顕微鏡（TEM） |
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| 令和６年１２月１２日 | 極微細周期構造解析システム（利用料金改定） | |
| 令和７年６月１２日 | ４００ＭＨｚフーリエ変換核磁気共鳴装置 JNM ECZ400S（利用料金改定） | |
| 電子工学専攻／附属光・電子工学教育研究センターフォトニック結晶面発光レーザー形成設備共同利用規程 |
令和５年１０月１２日 | 半導体結晶成長装置 HR-3216 プラズマ CVD 装置 PD-220 電子ビーム露光装置 JBX-6300 等 電子ビーム露光装置 JBX-9400#1 等 電子ビーム露光装置 JBX-9400#2 等 プラズマエッチング装置 RIE-41iPK プラズマエッチング装置 ICP110iPKU プラズマエッチング装置 RIE-200ku プラズマエッチング装置 RIE-200kuS プラズマエッチング装置 RIE-400iPNK 反応性イオンエッチング装置 RIE-10NR-KU 走査型電子顕微鏡 S-4800EDX 走査型電子顕微鏡 Regulus8220 光露光装置 DL-1000KIR 光露光装置 DDB-701-DL4-FBT 等 電子ビーム蒸着装置 ED-1500 電子ビーム蒸着装置 多元同時電子ビーム蒸着装置 メッキ装置 大面積フォトニック結晶レーザー用厚膜電極形成装置 研削・研磨装置 FAM-12BS#1 研削・研磨装置 FAM-12BS#2 ダイシング装置 純水リサイクルユニット付きダイシング装置 スクライブ装置 DPS-301R-KU フリップチップボンディング装置 MODEL4200-KU フリップチップボンディング装置 KMP400 ワイヤボンディング装置 モデル 7476D ワイヤボンディング装置 モデル 4KE 封止装置 インバータ式溶接機 |
| 建築学専攻モーションキャプチャ共同利用規程 |
令和７年３月１３日 | アキュイティー㈱製 OptiTrack 一式 |
| 建築学専攻建築桂ファブ設備共同利用規程 |
令和７年３月１３日 | 建築桂ファブ設備一式 |
*規程名称冒頭にはすべて「京都大学大学院工学研究科」が付くが、表では省略している